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簡要描述:KC系列三合一精測顯微鏡現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于各行各業(yè)的新型材料研究、精密工程技術(shù)等基石研究領(lǐng)域。產(chǎn)品可非接觸、高精度地獲取樣品表面的微觀形貌,生成基于高度的彩色三維點云,全程以數(shù)據(jù)圖形化的方式進行顯示、處理、 測量、分析。
更新時間:2026-06-15
產(chǎn)品型號:
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
訪 問 量:211 產(chǎn)品分類
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KC系列三合一精測顯微鏡現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于各行各業(yè)的新型材料研究、精密工程技術(shù)等基石研究領(lǐng)域。產(chǎn)品可非接觸、高精度地獲取樣品表面的微觀形貌,生成基于高度的彩色三維點云,全程以數(shù)據(jù)圖形化的方式進行顯示、處理、 測量、分析。
產(chǎn)品特點
1、處理功能
1)3D顯示:支持以三維高度色彩模型、點云模型、網(wǎng)格模型顯示掃描區(qū)域,模型可移動、旋轉(zhuǎn)、縮放、調(diào)節(jié)高度比例,照明角度、背景顏色、色卡刻度顏色、照明強度、圖像品質(zhì)、標(biāo)尺顏色、標(biāo)尺位置可調(diào)節(jié),可疊加回光強度紋理、真彩色以凸顯圖像細節(jié);
2)高度顯示:支持高度-色彩對應(yīng)關(guān)系調(diào)節(jié)、色彩模板調(diào)節(jié);
3)基準(zhǔn)面設(shè)置:支持以選定的區(qū)域作為基準(zhǔn)平面校平模型,支持指定高度偏移、繞XY軸傾斜角度校平模型;
4)反轉(zhuǎn)處理:支持沿高度方向、垂直方向、水平方向反轉(zhuǎn)模型;
5)平滑處理:支持以簡單平均、高斯濾波、中值濾波方式平滑模型表面形貌;
6)高度削減:支持以規(guī)定高度差異程度的方式去除異常點;
7)光強濾波:支持以調(diào)節(jié)光強閾值的方式去除異常點;
8)區(qū)域裁剪:支持以選定的區(qū)域覆蓋原文件或另存為新文件;
9)重置:支持一鍵撤銷所有處理操作,恢復(fù)為原始圖像;
10)導(dǎo)出點云:支持將當(dāng)前圖像導(dǎo)出為.csv文件,包含所有點位的XYZ位置與反光強度數(shù)據(jù);
2、測量功能
1)平面測量:支持在二維高度色彩圖中通過點、線、圓、角等工具測量平面數(shù)據(jù);
2)輪廓測量:支持在二維高度色彩圖中通過點、線、圓等工具創(chuàng)建橫截面輪廓,測量距離、圓弧半徑、角度、橫截面積、截面長度等輪廓數(shù)據(jù);
3)平均臺階:支持測量選定區(qū)域的平均高度、高度極值、高度差極值以及多個區(qū)域間的高度差;
4)點高度測量:支持在二維高度色彩圖中測量高度差、高度極值;
5)峰谷統(tǒng)計:支持設(shè)置基準(zhǔn)高度上下限以自動識別峰、谷,測量峰、谷數(shù)量與橫截面積,可通過設(shè)置濾波核大小、峰谷最小高差去除異常峰、谷;
6)體積面積:支持設(shè)置基準(zhǔn)面高度以自動識別凸面、凹面,測量凸起、凹陷的體積、橫截面積、表面積;
7)線條粗糙度:支持在二維高度色彩圖中通過點、線、圓等工具創(chuàng)建線條粗糙度輪廓,測量Ra、Rp、Rq、Rv、Rz數(shù)據(jù);
8)輔助工具:支持在平面測量、輪廓測量、線條粗糙度中自動完成極值點、中點、中線、交點的擬合以及邊緣抽取;
9)表面粗糙度:支持測量選定區(qū)域的Sa、Sz、Sdr數(shù)據(jù);
10)平面度測量:支持測量選定區(qū)域的FLTt、FLTp、FLTv、FLTq數(shù)據(jù);
11)數(shù)據(jù)保存:所有測量結(jié)果支持保存為xlsx文件;
12)測量選項:支持調(diào)節(jié)線條顏色與寬度、文字顏色與字體、長度單位


產(chǎn)品咨詢
郵箱:13331030522@163.com
地址:北京市海淀區(qū)清河安寧莊東路18號23號樓2層,MT:13331030522

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